專注高精度
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YND-B1大屏差示掃描量熱儀 無需外接電腦,顯示方式: 10寸工業電腦觸摸顯示，可外接鼠標、鍵盤、U盤、打印機，全封閉支架結構設計，防止物品掉入到爐體中、污染爐體，減少維修率，雙溫度探頭，分別檢測爐體溫度與樣品溫度，保證樣品溫度測量的高度重復性、真實性。
YND-A1氧化誘導測定儀 內置10寸電腦儀器符合G B /T 19466.3- 2009/ISO 11357-3 :1999 第6部分氧化誘導期。氧化誘導時間（等溫OIT）和氧化誘導溫度（動態OIT）的測定。 氧化誘導期已經被納入管道行業及電線電纜強檢范圍。
DSC-500BL低溫差示掃描量熱儀 半導體制冷 配恒溫槽,該差示掃描量熱儀為觸摸屏式，可進行玻璃化轉變溫度測試、相轉變測試、熔融和熱焓值測試、產品穩定性、氧化誘導期測試。
DSC-500BS差示掃描量熱儀 快速降溫配恒溫槽 可測試玻璃化轉變溫度、熔融和熱焓值測試、氧化誘導期、熱固化、冷結晶、結晶度等。本系列采用壓縮機水冷方式降溫，可同時適用于長時間的氧化誘導測試與降溫結晶測試要求，避免了爐體長期高溫易損傷半導體制冷片的弊端。
DSC差示掃描量熱儀DSC-1550B為觸摸屏式，可進行玻璃化轉變溫度測試、相轉變測試、熔融和熱焓值測試、產品穩定性、氧化誘導期測試。
DSC-1450B高溫差示掃描量熱儀 晶體材料溫度測定儀,該差示掃描量熱儀為觸摸屏式，可進行玻璃化轉變溫度測試、相轉變測試、熔融和熱焓值測試、產品穩定性、氧化誘導期測試。
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